32.768KHz晶振測(cè)試儀

一． 概述

CX-118A型晶振測(cè)試儀是一款用來(lái)測(cè)試晶振頻率、精度、漂移等指標(biāo)的通用測(cè)試儀器。

儀器采用超高精度的有源溫補(bǔ)晶振作為時(shí)間基準(zhǔn)；高速ECL電路進(jìn)行信號(hào)的整形、放大、計(jì)數(shù) ;單片機(jī)進(jìn)行系統(tǒng)管理及數(shù)據(jù)處理。儀器自身帶有*常用的Pierce振蕩電路，可以用來(lái)直接測(cè)試40MHZ以下的無(wú)源基頻晶振（超過(guò)40M的基頻晶振很少）、以及100MHZ以下的泛音晶振的基頻頻率。

二．功能及用途

CX-118A型晶振測(cè)試儀可直接測(cè)量40MHz以下無(wú)源晶振的頻率、以及100MHz以下泛音晶振的基頻頻率，可滿(mǎn)足絕大部分晶振測(cè)量的需要。（絕大多數(shù)的基頻晶振頻率都<35MHz，泛音晶振多為3倍泛音，）。可直接測(cè)量插腳封裝晶振，配備“貼片晶振測(cè)試座”也可測(cè)量貼片封裝晶振；

配備不同規(guī)格的“貼片晶振測(cè)試座”后可以測(cè)量。

該設(shè)備可以測(cè)量如下類(lèi)型的參數(shù)：

1.頻率

2.周期

3.頻率偏差率

4.頻率漂移率

5.漂移監(jiān)測(cè)時(shí)間

三．主要技術(shù)指標(biāo)

1. 頻率測(cè)量范圍：32.768KHz-100MHz

2. 周期測(cè)量范圍：1ns-10s

3. 采樣時(shí)間（T）：0.01s、0.1s、1s、10s可調(diào)

4. 頻率分辨率(R.P.)：

T=0.01s 時(shí)R.P.=100HZ

T=0.1s 時(shí)R.P.=10HZ

T=1s 時(shí)R.P.=1HZ

T=10s 時(shí)R.P.=0.1HZ

5. 基準(zhǔn)頻率：10MHz

6. 基準(zhǔn)精度：2ppm

7. 測(cè)量精度：2.5倍基準(zhǔn)精度+1 R.P.

8. 外部輸入信號(hào)幅度：50mv-10v

9. 環(huán)境溫度：20±15℃

10. 電源：100-240v、50/60Hz

11. 功耗：<10W